Provexa Technology satsar på nytt svepelektronmikroskop
Text och foto: Janne Näsström
I ytbehandlingens värld kan resultatet hänga på antalet atomlager. Därför har Provexa Technology AB satsat på ett nytt svepelektronmikroskop.
– Det ger oss ännu större möjligheter inom forskning & utveckling och felsökning, säger Christian Werdinius, R&D-chef på Provexa Technology.
Det nya mikroskopet har högre upplösning och kan även användas för kemisk analys, genom att röntgenstrålning kan detekteras. Inbyggd plasmarengöring i vakuum gör att främmande ämnen elimineras.
– Vi har även investerat i två detektorer för att mäta röntgenstrålningen som genereras på ytan av provet, EDS och WDS. De mäter koncentrationen av olika grundämnen med hög känslighet, säger Christian.
Tillsammans med svepelektronmikroskopet gör det att både struktur och sammansättningen av ytor kan kartläggas på nanometernivå. Med utrustningen i huset kommer man snabbare till skott med tester.
– Vi kan även följa upp iakttagelser som ligger utanför uppdraget. Ju mer man tittar, desto mer upptäcker man, säger Christian.
Om laboratoriets utrustning inte skulle räcka till samarbetar Provexa Ytbehandling med Chalmers Tekniska Högskola, forskningsinstitutet RISE och andra aktörer inom provning, forskning och utveckling. Summan av nätverket är möjligheter som få andra företag kan erbjuda.
Med resurser på den här nivån är uppdragen inte rutinanalyser, utan avancerad felsökning, produktutveckling och uppdragsforskning. Ett aktuellt projekt handlar om grafen och andra 2D-material.
Provexa använder redan grafen i egna processer. I ett pågående projekt studeras bl. a. MXener vilket en klass av oorganiska tvådimensionella föreningar. De har intressanta egenskaper, särskilt i samband med elektrifiering.
– Ett resultat kan bli ytbehandling som absorberar elektromagnetisk strålning, ger Christian Werdinius som exempel.